[发明专利]一种高链路预算的芯片射频指标测试方法及系统有效
| 申请号： | 202110271793.0 | 申请日： | 2021-03-12 |
| 公开（公告）号： | CN113037401B | 公开（公告）日： | 2023-03-28 |
| 发明（设计）人： | 郭宁敏;邸庆祥;陶宏 | 申请（专利权）人： | 上海磐启微电子有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/309 | 分类号： | H04B17/309 |
| 代理公司： | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人： | 党蕾 |
| 地址： | 200120 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及到芯片测试领域，尤其涉及一种高链路预算的芯片射频指标测试方法及系统。方法具体包括：步骤S1，设置衰减链路；步骤S2，根据链路衰减预算调节衰减链路；步骤S3，待测芯片通过调节后的衰减链路将第一射频信号发射至标准芯片；步骤S4，标准芯片根据第一射频信号，生成第二射频信号并通过衰减链路反馈至待测芯片；步骤S5，根据第一射频信号、第二射频信号和链路衰减预算获取待测芯片的射频指标测试结果。本发明的技术方案有益效果在于：提供一种高链路预算的芯片射频指标测试方法及系统，通过待测芯片与标准芯片之间的通信获取射频指标测试结果，能够在满足高链路预算的同时，降低经济成本，简化测试流程，便于产业化生产。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高链路 预算 芯片 射频 指标 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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