[发明专利]一种快速获取镍电极陶瓷电容器晶粒度的方法在审
申请号: | 202110277641.1 | 申请日: | 2021-03-15 |
公开(公告)号: | CN113092200A | 公开(公告)日: | 2021-07-09 |
发明(设计)人: | 焦强;芮二明;韩福禹;刘文宝;江理东 | 申请(专利权)人: | 中国航天标准化研究所 |
主分类号: | G01N1/28 | 分类号: | G01N1/28;G01N1/32;G01N23/203 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 任林冲 |
地址: | 100071*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种快速获取镍电极陶瓷电容器晶粒度的方法,包括:采用切割机或粗磨方式,切割或研磨样品,使样品观察区域裸露在外;采用热镶嵌方式将样品进行固定,除样品观察区域外,均被具有导电性的热镶嵌料包裹;采用粗磨砂纸,对样品观察区域进行研磨,在50倍显微镜下可观察到镍电极和电极间的端头;采用金刚石磨盘并添加金刚石抛光液,对粗磨后的样品观察区域进行细磨,在100倍显微镜下可清晰观察到样品观察区域表面划痕数不多于5条。本发明采用物理制样,与现有化学腐蚀相比,在不破坏原有的晶粒形貌的基础上,更好的得到晶粒原始形貌,简便快捷的获取镍电极陶瓷电容器晶粒度。 | ||
搜索关键词: | 一种 快速 获取 电极 陶瓷 电容器 晶粒 方法 | ||
【主权项】:
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