[发明专利]一种快速获取镍电极陶瓷电容器晶粒度的方法在审

专利信息
申请号: 202110277641.1 申请日: 2021-03-15
公开(公告)号: CN113092200A 公开(公告)日: 2021-07-09
发明(设计)人: 焦强;芮二明;韩福禹;刘文宝;江理东 申请(专利权)人: 中国航天标准化研究所
主分类号: G01N1/28 分类号: G01N1/28;G01N1/32;G01N23/203
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 任林冲
地址: 100071*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种快速获取镍电极陶瓷电容器晶粒度的方法,包括:采用切割机或粗磨方式,切割或研磨样品,使样品观察区域裸露在外;采用热镶嵌方式将样品进行固定,除样品观察区域外,均被具有导电性的热镶嵌料包裹;采用粗磨砂纸,对样品观察区域进行研磨,在50倍显微镜下可观察到镍电极和电极间的端头;采用金刚石磨盘并添加金刚石抛光液,对粗磨后的样品观察区域进行细磨,在100倍显微镜下可清晰观察到样品观察区域表面划痕数不多于5条。本发明采用物理制样,与现有化学腐蚀相比,在不破坏原有的晶粒形貌的基础上,更好的得到晶粒原始形貌,简便快捷的获取镍电极陶瓷电容器晶粒度。
搜索关键词: 一种 快速 获取 电极 陶瓷 电容器 晶粒 方法
【主权项】:
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