[发明专利]一种电路测试方法、系统、电子设备及介质在审
| 申请号： | 202110281501.1 | 申请日： | 2021-03-16 |
| 公开（公告）号： | CN112964955A | 公开（公告）日： | 2021-06-15 |
| 发明（设计）人： | 马盼盼;柯举 | 申请（专利权）人： | 云从科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/54;G01R31/69;G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 李铁 |
| 地址： | 511457 广东省广州市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种电路测试方法、系统、电子设备及介质，方法包括：获取电磁兼容测试失败的电路的关联信息，其中，所述关联信息至少包括以下之一：电气导通性状态、插接件和互连线状态、电路板布局布线状态、芯片状态；对所述电路的关联信息和电磁兼容进行测试，确定所述电路中异常的关联信息，完成电路测试。通过对关联信息的检测过程或者顺序进行优化，分层次确定电路中存在的异常问题，解决了传统方法中ESD问题定位不准确、整改效率低、整改对策无法量产等诸多问题，便于在电路整改时根据设备电路不同的电气导通性状态、插接件和互连线状态、电路板布局布线状态、芯片状态查找对应的定位问题和整改思路。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电路 测试 方法 系统 电子设备 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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