[发明专利]一种基于位移传感器的旋转台转轴误差测量与校正方法有效

专利信息
申请号: 202110282020.2 申请日: 2021-03-16
公开(公告)号: CN113188491B 公开(公告)日: 2023-07-25
发明(设计)人: 王研;张凯;袁清习;黄万霞;何其利;张锦;姚春霞;付天宇 申请(专利权)人: 中国科学院高能物理研究所
主分类号: G01B21/00 分类号: G01B21/00
代理公司: 北京君尚知识产权代理有限公司 11200 代理人: 司立彬
地址: 100049 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种基于位移传感器的旋转台转轴误差测量与校正方法。本发明测量方法为:1)将标准件固定于旋转台的旋转面上,并设置N个固定不动的位移传感器;2)控制旋转台转动,进行一次转台旋转以进行校准测量,根据测量记录校准时旋转角为θ时的轴端点位置和校准时旋转角为θ时的位移传感器测量值计算得到相同旋转角度时恒定不变的误差部分f(εθ);其中,cθ为旋转角为θ时的校准参数;3)控制旋转台转动,记录各位移传感器的实时测量值然后根据计算得到轴端点位置根据确定转轴误差。
搜索关键词: 一种 基于 位移 传感器 旋转 转轴 误差 测量 校正 方法
【主权项】:
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