[发明专利]测量方法、测量装置、测量系统及记录介质有效
| 申请号： | 202110284578.4 | 申请日： | 2021-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN113494952B | 公开（公告）日： | 2023-07-18 |
| 发明（设计）人： | 小林祥宏 | 申请（专利权）人： | 精工爱普生株式会社 |
| 主分类号： | G01G19/03 | 分类号： | G01G19/03;G01G3/12 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 李丹 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及测量方法、测量装置、测量系统及记录介质。一种测量方法，包括：获取包含第m移动体的各部位通过第一观测点的时刻以及作为对作用的响应的物理量的第一观测点信息的步骤；获取包含所述各部位通过第二观测点的时刻以及作为对作用的响应的物理量的第二观测点信息的步骤；计算由所述各部位引起的结构物的挠曲波形的步骤；将所述挠曲波形相加，计算第m移动体挠曲波形的步骤；计算第三观测点的位移波形的步骤；将第m振幅系数与所述第m移动体挠曲波形相乘而得到的波形作为第m振幅调整挠曲波形，设第一～第M振幅调整挠曲波形之和与所述位移波形近似，来计算所述第一振幅系数～所述第M振幅系数的步骤。 | ||
| 搜索关键词： | 测量方法 测量 装置 系统 记录 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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