[发明专利]缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质有效
| 申请号： | 202110293621.3 | 申请日： | 2021-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN112801047B | 公开（公告）日： | 2021-08-17 |
| 发明（设计）人： | 刘文龙;高斌斌 | 申请（专利权）人： | 腾讯科技（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G06K9/00 | 分类号： | G06K9/00;G06K9/32;G06K9/46;G06K9/62 |
| 代理公司： | 北京市立方律师事务所 11330 | 代理人： | 张筱宁 |
| 地址： | 518000 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及图像处理技术领域，公开了一种基于计算机视觉技术的缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质，缺陷检测方法包括：获取待检测目标的待检测图像和标准图像，提取所述待检测图像的待检测特征，并提取所述标准图像的标准特征；将所述待检测特征与所述标准特征融合，得到第一融合特征；确定所述第一融合特征中的感兴趣区域特征；基于所述感兴趣区域特征和所述第一融合特征检测所述待检测图像中的缺陷信息。本申请提供的缺陷检测方法可以有效提高物品图像缺陷信息的检测精度。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检测 方法 装置 电子设备 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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