[发明专利]一种基于余数匹配的光学欠采样频率恢复方法有效
| 申请号： | 202110294565.5 | 申请日： | 2021-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN113138313B | 公开（公告）日： | 2022-04-08 |
| 发明（设计）人： | 谢树果;杨燕;王天恒;田雨墨;王铁凝 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01R29/12 | 分类号： | G01R29/12;G01R23/02 |
| 代理公司： | 北京航智知识产权代理事务所(普通合伙) 11668 | 代理人： | 黄川;史继颖 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于余数匹配的光学欠采样频率恢复方法，通过研究待测频率余数的特点，总结了重频、待测频率最大值、接收机测量误差和系统错误率之间的关系，并设计了频率计算程序。本发明的算法对欠采样重频差的大小具有普适性，不仅可以应用于实验室精确控制的小重频差的情况，还可以应用于定频光源重频差较大的情况，对于实现野外电场快速测量具有重要意义。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 余数 匹配 光学 采样 频率 恢复 方法 | ||
【主权项】：
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