[发明专利]基于空间频域成像的光学特性测量方法、装置及系统有效
| 申请号： | 202110304223.7 | 申请日： | 2021-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN114018819B | 公开（公告）日： | 2022-11-11 |
| 发明（设计）人： | 赵雁雨;樊瑜波 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01N21/17 | 分类号： | G01N21/17 |
| 代理公司： | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人： | 徐晨影;许振新 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种基于空间频域成像的光学特性测量方法、装置及系统，用以提高空间频域成像的测量速度。所述方法包括：在空间频域对光源发射的第一光线进行调制，以得到指定空间频率的第一目标正弦光图案，所述第一目标正弦光图案的编码比特数量小于预设比特数量；将所述第一目标正弦光图案照射至待测样品的表面；采集第二光线的光强分布数据，所述第二光线为所述第一目标正弦光图案被所述待测样品反射后形成；根据所述第二光线的光强分布数据，确定所述待测样品的光学特性参数。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 空间 成像 光学 特性 测量方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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