[发明专利]全尺寸叶片刚度检测方法、电子设备及存储介质有效
申请号: | 202110313512.3 | 申请日: | 2021-03-24 |
公开(公告)号: | CN113029479B | 公开(公告)日: | 2022-11-08 |
发明(设计)人: | 潘祖金;白宏伟;王国军;马锐 | 申请(专利权)人: | 上海电气风电集团股份有限公司 |
主分类号: | G01M5/00 | 分类号: | G01M5/00;G01B11/24 |
代理公司: | 上海元好知识产权代理有限公司 31323 | 代理人: | 张静洁;曹媛 |
地址: | 200241 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种全尺寸叶片刚度检测方法、电子设备及存储介质,所述方法包括:将待检测叶片放置在支撑台上,在所述待检测叶片的验证区域设置若干个测试点;测量每一所述测试点的挠度;根据所有所述测试点的挠度建立叶片挠度曲线函数;采用所述叶片挠度曲线函数得到每一所述测试点的叶片截面的实测曲率,将所述实测曲率与所述待测叶片的对应的各个截面的理论曲率进行对比,得到检测结果。本发明解决了大型测试平台和加载装备的占用问题。 | ||
搜索关键词: | 尺寸 叶片 刚度 检测 方法 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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