[发明专利]校准器、半导体装置及差分输入电路的校准方法在审
| 申请号： | 202110314520.X | 申请日： | 2021-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN114430255A | 公开（公告）日： | 2022-05-03 |
| 发明（设计）人： | 张砚棷 | 申请（专利权）人： | 爱思开海力士有限公司 |
| 主分类号： | H03F1/30 | 分类号： | H03F1/30;H03F3/45 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 刘久亮;黄纶伟 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请涉及校准器、半导体装置及差分输入电路的校准方法。根据实施方式，一种半导体装置包括：差分输入电路，其适于接收分别输入至第一输入晶体管和第二输入晶体管的第一输入信号和第二输入信号，并输出输出信号；比较电路，其适于在校准模式下，通过将输出信号与第一比较电压进行比较来生成第一判断信号，并且通过将输出信号与第二比较电压进行比较来生成第二判断信号；偏移控制电路，其适于根据第一判断信号和第二判断信号调整粗略码和精细码；以及偏移调整电路，其适于根据粗略码以第一强度调整第一输入晶体管和第二输入晶体管各自的驱动能力，并且根据精细码以小于第一强度的第二强度调整第一输入晶体管和第二输入晶体管各自的驱动能力。 | ||
| 搜索关键词： | 校准 半导体 装置 输入 电路 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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