[发明专利]芯片测试系统和测试方法在审
| 申请号： | 202110319773.6 | 申请日： | 2021-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN113160875A | 公开（公告）日： | 2021-07-23 |
| 发明（设计）人： | 潘晓辉;王吉健;徐红如 | 申请（专利权）人： | 南京英锐创电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/10 | 分类号： | G11C29/10;G11C29/44 |
| 代理公司： | 北京超成律师事务所 11646 | 代理人： | 孔默 |
| 地址： | 210008 江苏省南京市江北*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请提供一种芯片测试系统和测试方法，该芯片测试系统包括：上位机，用于基于配置信息生成测试指令；协议转换器，一端连接上位机，用于将上位机下发的测试指令转换为预设格式的测试命令；待测芯片，连接协议转换器的另一端，用于接收协议转换器发送的预设格式的测试命令，并执行预设格式的测试命令，获得对待测芯片的测试信息；其中，上位机生成对测试信息的读取指令，并由协议转换器将读取指令转换为预设格式的测试命令后发送给待测芯片，待测芯片执行读取指令，并将读取到的测试信息返回给上位机。本申请不仅可以用于量产的芯片测试，也可以用于测试片的芯片测试，克服了现有技术中芯片测试的局限性。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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