[发明专利]一种光耦测试方法及系统在审
| 申请号： | 202110328108.3 | 申请日： | 2021-03-26 |
| 公开（公告）号： | CN113064043A | 公开（公告）日： | 2021-07-02 |
| 发明（设计）人： | 顾汉玉;蔡毅;徐刚 | 申请（专利权）人： | 深圳群芯微电子有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 深圳市道勤知酷知识产权代理事务所(普通合伙) 44439 | 代理人： | 何兵;吕诗 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田区华强北街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开提供了一种光耦测试方法及系统，涉及电子技术领域。该测试方法包括：将若干光耦元件形成一光耦元件组合，所述若干光耦元件的输入端引脚以及接收端引脚全部短路连接；将所述光耦元件组合中的所有光耦元件都分别切开一个输入端正极引脚以及一个接收端集电极引脚；将若干探针形成一探针组合，其中所述探针组合中的探针数量和位置与所述光耦元件组合中被切开的输入端正极引脚以及接收端集电极引脚的数量和位置匹配；通过所述探针组合中的探针将所述光耦元件组合中所有被切开的输入端正极引脚以及接收端集电极引脚与测试仪器连接起来；所述测试仪器获取所述光耦元件组合中每个光耦元件的测试数据。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳群芯微电子有限责任公司，未经深圳群芯微电子有限责任公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110328108.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：天线组件及电子设备
- 下一篇：语音唤醒智能控制方法、装置、电子设备及存储介质
