[发明专利]薄膜晶体管及其制备方法、阵列基板在审

专利信息
申请号: 202110340221.3 申请日: 2021-03-30
公开(公告)号: CN113097289A 公开(公告)日: 2021-07-09
发明(设计)人: 刘家昌;袁鑫;曹曙光;范文志 申请(专利权)人: 合肥维信诺科技有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L27/12;H01L29/786;H01L21/34
代理公司: 北京远智汇知识产权代理有限公司 11659 代理人: 范坤坤
地址: 230000 安徽省合*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明实施例公开了一种薄膜晶体管及其制备方法、阵列基板,薄膜晶体管,包括:衬底;半导体层,位于衬底的一侧;氢元素供给层,氢元素供给层位于半导体层靠近或远离衬底的一侧;氢元素供给层中含有氢;阻挡层,阻挡层位于氢元素供给层和半导体层之间;其中阻挡层包括阻挡区和至少两个非阻挡区,阻挡区的氢元素透过率低于非阻挡区的氢元素透过率;其中,氢元素供给层用于通过非阻挡区向半导体层提供氢元素,以使半导体层对应于非阻挡区的位置导体化。本发明实施例提供的技术方案,减少了对半导体的源区和漏区导体化时沟道区域导体化,使得有效沟道长度不会受到影响,进而满足TFT器件要求,提高TFT沟道长度在阵列基板上分布的均一性。
搜索关键词: 薄膜晶体管 及其 制备 方法 阵列
【主权项】:
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