[发明专利]薄膜晶体管及其制备方法、阵列基板在审
申请号: | 202110340221.3 | 申请日: | 2021-03-30 |
公开(公告)号: | CN113097289A | 公开(公告)日: | 2021-07-09 |
发明(设计)人: | 刘家昌;袁鑫;曹曙光;范文志 | 申请(专利权)人: | 合肥维信诺科技有限公司 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L27/12;H01L29/786;H01L21/34 |
代理公司: | 北京远智汇知识产权代理有限公司 11659 | 代理人: | 范坤坤 |
地址: | 230000 安徽省合*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明实施例公开了一种薄膜晶体管及其制备方法、阵列基板,薄膜晶体管,包括:衬底;半导体层,位于衬底的一侧;氢元素供给层,氢元素供给层位于半导体层靠近或远离衬底的一侧;氢元素供给层中含有氢;阻挡层,阻挡层位于氢元素供给层和半导体层之间;其中阻挡层包括阻挡区和至少两个非阻挡区,阻挡区的氢元素透过率低于非阻挡区的氢元素透过率;其中,氢元素供给层用于通过非阻挡区向半导体层提供氢元素,以使半导体层对应于非阻挡区的位置导体化。本发明实施例提供的技术方案,减少了对半导体的源区和漏区导体化时沟道区域导体化,使得有效沟道长度不会受到影响,进而满足TFT器件要求,提高TFT沟道长度在阵列基板上分布的均一性。 | ||
搜索关键词: | 薄膜晶体管 及其 制备 方法 阵列 | ||
【主权项】:
暂无信息
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