[发明专利]测量系统、测量方法及曝光装置在审

专利信息
申请号: 202110353528.7 申请日: 2015-12-22
公开(公告)号: CN113093484A 公开(公告)日: 2021-07-09
发明(设计)人: 上田哲宽 申请(专利权)人: 株式会社尼康
主分类号: G03F9/00 分类号: G03F9/00;G03F7/20;H01L21/68;H01L21/027
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 陈伟;闫剑平
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 移动体的控制方法,包含:使能够在XY平面内移动的移动体(22)沿Y轴方向移动,同时一边使从标记检测系统(50)照射的测量束相对于载置于该移动体(22)的晶圆(W)上设置的多个格子标记的中的一部分格子标记沿Y轴方向扫描,一边检测该一部分格子标记的工序;测量在一部分格子标记上的测量束的照射位置的工序;以及基于照射位置的测量结果使测量束和移动体(22)在X轴方向相对移动,并且一边使测量光沿Y轴方向扫描一边检测其它格子标记的工序。
搜索关键词: 测量 系统 测量方法 曝光 装置
【主权项】:
暂无信息
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