[发明专利]测量系统、测量方法及曝光装置在审
申请号: | 202110353528.7 | 申请日: | 2015-12-22 |
公开(公告)号: | CN113093484A | 公开(公告)日: | 2021-07-09 |
发明(设计)人: | 上田哲宽 | 申请(专利权)人: | 株式会社尼康 |
主分类号: | G03F9/00 | 分类号: | G03F9/00;G03F7/20;H01L21/68;H01L21/027 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 陈伟;闫剑平 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 移动体的控制方法,包含:使能够在XY平面内移动的移动体(22)沿Y轴方向移动,同时一边使从标记检测系统(50)照射的测量束相对于载置于该移动体(22)的晶圆(W)上设置的多个格子标记的中的一部分格子标记沿Y轴方向扫描,一边检测该一部分格子标记的工序;测量在一部分格子标记上的测量束的照射位置的工序;以及基于照射位置的测量结果使测量束和移动体(22)在X轴方向相对移动,并且一边使测量光沿Y轴方向扫描一边检测其它格子标记的工序。 | ||
搜索关键词: | 测量 系统 测量方法 曝光 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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