[发明专利]一种提高迭代初值精度的电离层层析成像方法有效

专利信息
申请号: 202110365452.X 申请日: 2021-04-02
公开(公告)号: CN113093189B 公开(公告)日: 2022-12-09
发明(设计)人: 王成;刘波;肖鹏;陈亮;刘露;刘敏;眭晓虹;郭午龙 申请(专利权)人: 中国空间技术研究院
主分类号: G01S13/90 分类号: G01S13/90;G01S19/42;G01T1/29
代理公司: 北京格允知识产权代理有限公司 11609 代理人: 张莉瑜
地址: 100094 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种提高迭代初值精度的电离层层析成像方法、计算机设备和计算机可读存储介质,该方法包括:将电离层区域分割成多个网格,确定每个网格的坐标与电子密度初值;在电离层区域下方间隔设置多台垂测仪,利用垂测仪结合星载全极化SAR数据确定多个不同点的垂直电子密度;对相应网格的电子密度初值进行更新;利用GPS获取不同路径的多条射线并反演各条射线对应的TEC值;计算每条射线在每个网格中的投影长度;基于乘法代数重建法进行层析成像迭代反演,经过多次迭代后,求得电离层区域的电子密度分布。本发明利用垂测仪和星载全极化SAR数据修正电离层IRI经验模型数据,提高了迭代初值的真实性,可提高电离层层析成像的精度。
搜索关键词: 一种 提高 初值 精度 电离层 层析 成像 方法
【主权项】:
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