[发明专利]扁平引脚芯片的测试装置在审
| 申请号： | 202110372019.9 | 申请日： | 2021-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN113495207A | 公开（公告）日： | 2021-10-12 |
| 发明（设计）人： | 彼得·乌尔苏;周家春;苏向晖;贾斯汀·巴哈 | 申请（专利权）人： | 史密斯互连美洲公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人： | 林治辰;邱成杰 |
| 地址： | 美国堪*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及半导体领域，公开了一种扁平引脚芯片的测试装置，包括绝缘的测试插座、导电的接触件以及枢轴结构，测试插座内具有空腔、分别与空腔连通的第一开口和第二开口，接触件设置为能够保持在空腔内并具有从第一开口伸出的第一部分和从第二开口伸出的第二部分，第一部分形成为尖端，枢轴结构与接触件弹性地接触，从而接触件能够在扁平引脚芯片施加在第一部分上的作用力的作用下围绕枢轴结构转动，并且同时枢轴结构能够对接触件施加作用力，以使第二部分与测试板紧密接触并能够促动接触件复位转动。通过与扁平引脚芯片形成线‑面接触，能够保持稳定的接触并降低接触电阻，通过接触件的转动方便地实现接触件与扁平引脚芯片和测试板精确接触。 | ||
| 搜索关键词： | 扁平 引脚 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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