[发明专利]连接结构及其形成方法在审
申请号: | 202110373397.9 | 申请日: | 2021-04-07 |
公开(公告)号: | CN113140542A | 公开(公告)日: | 2021-07-20 |
发明(设计)人: | 陈国儒;黄俊贤;刘书豪;陈亮吟;张惠政;杨育佳 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/528 | 分类号: | H01L23/528;H01L21/768 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人: | 朱亦林 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本公开涉及连接结构及其形成方法。一种连接结构,包括:第一电介质层,其设置在衬底和导电特征之上;掺杂电介质层,其设置在第一电介质层之上;第一金属部分,其设置在第一电介质层中并与导电特征接触;以及掺杂金属部分,其设置在第一金属部分之上。第一金属部分和掺杂金属部分包括相同的贵金属材料。掺杂电介质层和掺杂金属部分包括相同的掺杂剂。 | ||
搜索关键词: | 连接 结构 及其 形成 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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