[发明专利]利用钝化层负电化抑制侧壁漏电流的探测器的制备方法有效

专利信息
申请号: 202110388246.0 申请日: 2021-04-12
公开(公告)号: CN113113511B 公开(公告)日: 2022-07-26
发明(设计)人: 陈伟强;牛智川;蒋洞微;崔素宁;李勇;蒋俊锴;王国伟;徐应强 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L21/02;H01L31/0216;H01L31/09
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种利用钝化层负电化抑制侧壁漏电流的探测器的制备方法,该制备方法包括:提供一红外材料,红外材料上形成有台面掩膜;采用电感耦合等离子体法刻蚀红外材料;采用干法刻蚀或湿法腐蚀去除台面掩膜,以形成带有台面结构的红外材料;在带有台面结构的红外材料上淀积电介质薄膜,以形成带有台面结构的钝化层;根据带有台面结构的钝化层的台面侧壁的厚度,对带有台面结构的钝化层进行元素掺杂;对带有台面结构的钝化层进行元素掺杂后,进行快速热退火处理,得到利用钝化层负电化抑制侧壁漏电流的探测器。
搜索关键词: 利用 钝化 电化 抑制 侧壁 漏电 探测器 制备 方法
【主权项】:
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