[发明专利]一种集成电子器件的稳定性测试装置及其测试方法在审
| 申请号： | 202110404604.2 | 申请日： | 2021-04-15 |
| 公开（公告）号： | CN113109652A | 公开（公告）日： | 2021-07-13 |
| 发明（设计）人： | 王翠平 | 申请（专利权）人： | 王翠平 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215124 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种集成电子器件的稳定性测试装置及其测试方法，属于集成电子器件稳定性测试技术领域。一种集成电子器件的稳定性测试装置，包括检测箱，还包括：隔板，固定于所述检测箱中，其中所述隔板开有渗水口，所述检测箱底端开有通道；第一转柱，安装于所述隔板正中间；测试平台，固定于所述第一转柱上端，其中所述测试平台上均等分安装有测试用的稳定结构；温控回转机构，设于所述测试平台上方，其中所述温控回转机构连接有动力机构；清洗机构，安装在所述检测箱外侧。该装置能够对集成电子器件进行多方位、多工况进行稳定性测试，相比普通测试设备更加灵活多变，组合效应强，更加接近实际复杂的运行环境。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成 电子器件 稳定性 测试 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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