[发明专利]一种环形滤波组件电性能测试性方法在审
| 申请号： | 202110411306.6 | 申请日： | 2021-04-16 |
| 公开（公告）号： | CN113125885A | 公开（公告）日： | 2021-07-16 |
| 发明（设计）人： | 袁杰;龚祖杰;杨洋 | 申请（专利权）人： | 成都泰格微波技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 成都巾帼知识产权代理有限公司 51260 | 代理人： | 邢伟 |
| 地址： | 610000 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种环形滤波组件电性能测试性方法，它包括以下步骤：S1、常温电性能测试方法，该测试方法包括通带插损测试方法、隔离度测试方法、电压驻波比测试方法和带外抑制测试方法；S2、所述低温电性能测试方法，它包括以下步骤：S21、取用一个低温箱，将低温箱内的温度设定为‑54~‑55℃；S22、将被测件（2）放置于低温箱内，保温0.4~0.5h后取出被测件（2）；S23、重复步骤S1的操作，即可在低温条件下，测试被测件（2）的通带插损、隔离度、电压驻波比和带外抑制性能。本发明的有益效果是：能够获取环形滤波器常温电性能、低温电性能以及高温电性能、测试方法简单。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 环形 滤波 组件 性能 测试 方法 | ||
【主权项】：
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