[发明专利]用于高层建筑测量放样的仪器支架及其使用方法有效

专利信息
申请号: 202110429957.8 申请日: 2021-04-21
公开(公告)号: CN113124302B 公开(公告)日: 2023-02-24
发明(设计)人: 石文井;赵文;陈都;王秋丽;王硕;程笑;顾海然 申请(专利权)人: 中国建筑第八工程局有限公司
主分类号: F16M13/02 分类号: F16M13/02;F16M11/20;G01C15/00
代理公司: 上海唯源专利代理有限公司 31229 代理人: 曾耀先
地址: 200131 上海市浦东新区中国*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明的用于高层建筑测量放样的仪器支架及其使用方法,仪器支架包括:第一杆件,该第一杆件的第一侧上部固定有连接支杆,该连接支杆上远离该第一杆件的一端设有用于转动连接至已有构件的第一铰接件,该第一杆件的第一侧下部滑动装设有平行于该连接支杆的调节支杆,该调节支杆的长度大于该连接支杆的长度;用于装设仪器的第二杆件,该第二杆件的第一端铰接至该第一杆件上与该第一侧相对的第二侧、并与该第一杆件之间形成一可变夹角;用于锁定该可变夹角的角度的紧固件,该紧固件连接于该第一杆件和该第二杆件之间。本发明解决了现有技术中高处测量时仪器支架不易调平的技术问题。
搜索关键词: 用于 高层建筑 测量 仪器 支架 及其 使用方法
【主权项】:
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