[发明专利]原位双倾单轴拉伸纳米线装置及其制作方法有效

专利信息
申请号: 202110430040.X 申请日: 2021-04-21
公开(公告)号: CN113138125B 公开(公告)日: 2023-03-14
发明(设计)人: 王立华;李东伟;马炎;韩晓东;邓青松 申请(专利权)人: 北京工业大学
主分类号: G01N3/08 分类号: G01N3/08;G01N3/06;G01N1/28;G01N1/32
代理公司: 北京东方盛凡知识产权代理有限公司 11562 代理人: 张雪
地址: 100124 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了原位双倾单轴拉伸纳米线装置及其制作方法,涉及材料显微结构原位变形研究技术领域。金属环的内侧壁上设置有平台,两组金属片组平行间隔设置在金属环的内部,并且各组金属片组的一端均固定在平台上,各组金属片组的另一端均为自由端,每组金属片组均包括一个第一金属片以及一个第二金属片,并且第一金属片与第二金属片固定贴合,两组金属片组中的第一金属片相互靠近,并且第一金属片的热膨胀系数大于第二金属片的热膨胀系数,固定件包括两个固定底座以及将两个固定底座连接在一起的纳米线,固定件将两组金属片组的自由端连接在一起;从而解决了现有技术中纳米材料原位变形的过程中无法对其实现原子尺度稳定的观察的问题。
搜索关键词: 原位 双倾单轴 拉伸 纳米 线装 及其 制作方法
【主权项】:
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