[发明专利]一种针对强磁场环境的测温校准方法在审
| 申请号： | 202110433328.2 | 申请日： | 2021-04-22 |
| 公开（公告）号： | CN113310602A | 公开（公告）日： | 2021-08-27 |
| 发明（设计）人： | 钟秋;杨莉萍;雒彩云;汪文兵;徐子君;陶冶 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海硅酸盐研究所 |
| 主分类号： | G01K15/00 | 分类号： | G01K15/00 |
| 代理公司： | 上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙) 31261 | 代理人： | 曹芳玲;邹蕴 |
| 地址： | 200050 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开一种针对强磁场环境的测温校准方法，包括对测温元件进行标定；将测温元件设置于控温炉体模块中，并将控温炉体模块放置于强磁场设备中，然后向测温元件通过恒定的电流；调节强磁场设备使磁场强度为0，将控温炉体模块加热或冷却至多个不同的指定温度作为参考温度；针对每个指定温度，调节强磁场设备以产生不同强度的磁场，记录磁场变化过程中测温元件的温度信号的变化情况；根据参考温度与不同磁场环境下测温元件的测温信号的变化情况，拟合得到温度修正系数以及温度和磁场强度的关系式，实现对强磁场环境中测温信号的修正。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 针对 磁场 环境 测温 校准 方法 | ||
【主权项】：
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