[发明专利]一种基于Nystrom谱聚类的超像素抠图方法在审

专利信息
申请号: 202110434415.X 申请日: 2021-04-22
公开(公告)号: CN113298821A 公开(公告)日: 2021-08-24
发明(设计)人: 贾洪杰;毛启容;王良君;宋和平;马忠臣 申请(专利权)人: 江苏大学
主分类号: G06T7/11 分类号: G06T7/11;G06K9/62
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 212013 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于Nystrom谱聚类的超像素抠图方法,针对传统的谱聚类超像素分割方法计算复杂度过高,不适合大尺寸图像处理的问题,利用Nystrom近似技术改进谱聚类,提高超像素分割的效率和质量。本发明首先在待分割图像上随机抽样,选取少量像素点样本;然后计算样本相似性矩阵,并对矩阵归一化;接着利用Nystrom近似技术,计算Laplacian矩阵的近似正交特征向量;再使用k‑means算法对特征空间中的代表点聚类,生成多个超像素;最后根据目标物体的轮廓,通过超像素分离前景目标与背景。本发明为Nystrom谱聚类设计了新的特征求解方法,使所得的近似特征向量满足正交条件,用于产生贴合物体形状的超像素。本发明可以降低超像素分割的计算复杂度,实现更高效、更精确的图像抠图。
搜索关键词: 一种 基于 nystrom 谱聚类 像素 方法
【主权项】:
暂无信息
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