[发明专利]一种辉光放电质谱中五氧化三钛晶体颗粒的制样方法及测试方法在审
| 申请号： | 202110436847.4 | 申请日： | 2021-04-22 |
| 公开（公告）号： | CN113109121A | 公开（公告）日： | 2021-07-13 |
| 发明（设计）人： | 姚力军;边逸军;潘杰;王学泽;叶科奇;钟伟华 | 申请（专利权）人： | 宁波江丰电子材料股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/34 | 分类号： | G01N1/34;G01N27/68 |
| 代理公司： | 北京远智汇知识产权代理有限公司 11659 | 代理人： | 王岩 |
| 地址： | 315400 浙江省宁波市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提供一种辉光放电质谱中五氧化三钛晶体颗粒的制样方法及测试方法，所述制样方法包括如下步骤：(1)铟片依次经酸洗、第一水洗、第一乙醇洗和第一干燥，得到处理后铟片；(2)五氧化三钛晶体颗粒依次经第二乙醇洗、第二水洗、第三乙醇洗和第二干燥，得到处理后五氧化三钛晶体颗粒；(3)步骤(2)所述五氧化三钛晶体颗粒置于铟片表面，经压片，得到待测样品；步骤(1)和步骤(2)没有先后顺序；所述制样方法尽量避免了杂质的引入，进而缩短了分析时间，确保了数据的准确性；所述测试方法通过特定测试参数可以获得较强的信号，灵敏度高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 辉光 放电 质谱中五 氧化 晶体 颗粒 方法 测试 | ||
【主权项】：
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