[发明专利]一种基于扫频筛选的柔性阵列电极通断检测方法在审
| 申请号： | 202110438579.X | 申请日： | 2021-04-22 |
| 公开（公告）号： | CN113093061A | 公开（公告）日： | 2021-07-09 |
| 发明（设计）人： | 胡源渊;张利剑;贾正伟 | 申请（专利权）人： | 北京机械设备研究所 |
| 主分类号： | G01R31/54 | 分类号： | G01R31/54 |
| 代理公司： | 北京知元同创知识产权代理事务所(普通合伙) 11535 | 代理人： | 梁田 |
| 地址： | 100039 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于扫频筛选的柔性阵列电极通断检测方法，其通过基于扫频筛选的柔性阵列电极通断检测手段，能够实现对柔性阵列电极中各个电极点与皮肤之间接触情况的实时检测，相对于现有技术能够从源头消除了伪迹干扰的产生，针对皮肤褶皱等原因造成的电极与皮肤间的非接触区间，通过实时检测接触阻抗筛选出阵列电极的未接触点并予以物理隔离，最大程度消除环境噪声的注入干扰，从而有效提高了肌电采集精度且不会影响肌电采集的实时性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 筛选 柔性 阵列 电极 检测 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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