[发明专利]一种提高铁磁共振线宽测试精度的平面传输线结构在审
申请号: | 202110467778.3 | 申请日: | 2021-04-28 |
公开(公告)号: | CN113203351A | 公开(公告)日: | 2021-08-03 |
发明(设计)人: | 张怀武;吴永锐;金立川;钟智勇;白飞明 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01B7/02 | 分类号: | G01B7/02;H01P3/00;H01P3/08 |
代理公司: | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人: | 吴姗霖 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明提供一种提高铁磁共振线宽测试精度的平面传输线结构,属于微波毫米波段磁性材料参数测试领域,包括依次串联的第一级标准特性阻抗接地共面波导、第一级非标准微带线、中间级非标准特性阻抗接地共面波导、第二级非标准微带线和第二级标准特性阻抗接地共面波导;第一、二级标准特性阻抗接地共面波导和由第一级非标准微带线、中间级非标准特性阻抗接地共面波导和第二级非标准微带线组成的传输线的特性阻抗均为50Ω;中间级非标准特性阻抗接地共面波导的信号线宽度和槽间距均为工艺极限值;第一、二级非标准微带线的长度均为四分之一中心频率波长。通过多级传输线变换,实现工艺极限值信号线宽度和槽间距的接地共面波导,提高测试精度。 | ||
搜索关键词: | 一种 提高 磁共振 测试 精度 平面 传输线 结构 | ||
【主权项】:
暂无信息
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