[发明专利]一种大功率半导体器件开通特性试验装置在审

专利信息
申请号: 202110468596.8 申请日: 2021-04-28
公开(公告)号: CN113281630A 公开(公告)日: 2021-08-20
发明(设计)人: 龚小华 申请(专利权)人: 龚小华
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G01R1/02;G01R1/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 362100 *** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明公开了一种大功率半导体器件开通特性试验装置,其结构包括操控面板、显示屏、接头、电线、接线装置、理线套、导线、主体,本发明进行使用时,将两条导线贯穿伸入接口,通过限定导件对两条导线进行分隔开,使得两条导线不易缠绕在一起,在进行测试时,将两个防护罩通过滑块在滑轨上向外滑动,将接线件上的金属夹裸露出来,与大功率半导体器件进行试验测试,在测试完成后,将两个防护罩通过滑块在滑轨上向内滑动,两块防护罩上的密封组件会对接而起到密封状态,对接线件前端的金属夹头进行保护,提高接线件的使用安全性。
搜索关键词: 一种 大功率 半导体器件 开通 特性 试验装置
【主权项】:
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