[发明专利]基于错误率变化型式在编程擦除循环期间对数据单元的选择性采样在审
| 申请号： | 202110472020.9 | 申请日： | 2021-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN113571120A | 公开（公告）日： | 2021-10-29 |
| 发明（设计）人： | H·R·桑吉迪;A·马尔谢;V·P·拉亚普鲁;K·K·姆奇尔拉 | 申请（专利权）人： | 美光科技公司 |
| 主分类号： | G11C29/42 | 分类号： | G11C29/42;G11C29/44 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 王龙 |
| 地址： | 美国爱*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开涉及基于错误率变化型式在编程擦除循环期间对数据单元的选择性采样。以操作方式与存储器装置耦合的处理装置配置成对所述存储器装置的数据单元进行第一编程擦除循环PEC，其中进行所述第一PEC包括扫描所述数据单元的多个页中的第一组页以确定第一错误率。所述处理装置还基于所述第一错误率和第二错误率来确定所述数据单元的错误率变化的第一型式。所述处理装置接着比较所述数据单元的所述错误率变化的第一型式与指示缺陷的错误率变化的预定型式。响应于确定所述错误率变化的第一型式对应于所述错误率变化的预定型式，所述处理装置进行与关于所述数据单元的缺陷修复有关的动作。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 错误率 变化 型式 编程 擦除 循环 期间 数据 单元 选择性 采样 | ||
【主权项】：
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