[发明专利]一种用于紧缩场测试中静区相位恢复的方法及装置有效
| 申请号： | 202110477755.0 | 申请日： | 2021-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN113376448B | 公开（公告）日： | 2023-02-28 |
| 发明（设计）人： | 王卫民;陈雨夏;吴永乐 | 申请（专利权）人： | 北京邮电大学 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人： | 孟维娜;赵元 |
| 地址： | 100876 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种用于紧缩场测试中静区相位恢复的方法及装置，涉及天线测试技术领域，上述方法包括：获取第一垂轴面所在光场的第一幅值和第一光强，并获得第二垂轴面所在光场的第二幅值和第二光强；利用所述第一光强和所述第二光强，获得按照相位随光强的变化关系确定的相位，作为所述第一垂轴面所在光场的初始相位；基于由所述第一幅值和第二幅值确定的幅值约束条件，对待调整复振幅信号的幅值进行迭代调整，直至满足迭代结束条件；将迭代调整后的待调整复振幅信号的相位确定为对所述第一垂轴面所在光场进行相位恢复后的相位。应用本发明实施例提供的方案进行静区中光场的相位恢复，能够提高相位恢复结果的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 紧缩 测试 中静区 相位 恢复 方法 装置 | ||
【主权项】：
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