[发明专利]一种芯片验证方法、装置及系统有效
| 申请号： | 202110481154.7 | 申请日： | 2021-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN113242156B | 公开（公告）日： | 2022-05-27 |
| 发明（设计）人： | 付博雅 | 申请（专利权）人： | 新华三半导体技术有限公司 |
| 主分类号： | H04L43/50 | 分类号： | H04L43/50;H04L43/08 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610000 四川省成都市中国（四川）自由*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种芯片验证方法、装置及系统，该方法应用于分析设备中，分析设备与测试设备相连，测试设备通过速率转换设备与运行被测芯片的仿真平台相连，被测芯片包括流量管理模块。该方法包括：获取测试设备在采样周期开始时测试设备所统计的第一累计流量；获取所述测试设备在采样周期结束时所述测试设备所统计的第二累计流量；根据所述采样周期和降频比，计算所述被测芯片在仿真环境下的实际测试周期；根据所述第一累计流量、所述第二累计流量和所述实际测试周期，计算所述流量管理模块的流量转发能力；若所述流量转发能力在设定能力范围内，则确认所述被测芯片的流量管理模块符合设计要求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 验证 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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