[发明专利]一种有效检测TaSi2有效

专利信息
申请号: 202110488059.X 申请日: 2021-04-30
公开(公告)号: CN113218811B 公开(公告)日: 2022-08-05
发明(设计)人: 李明伟;钟业盛;董国华;张庆猛;杨剑民;陈均优;孙宇雷;史丽萍;赫晓东;张文治;何飞 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学;齐齐哈尔大学;有研工程技术研究院有限公司
主分类号: G01N5/04 分类号: G01N5/04;G01N5/00
代理公司: 哈尔滨华夏松花江知识产权代理有限公司 23213 代理人: 侯静
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 一种有效检测TaSi2纯度的方法,它涉及材料领域,本发明提供一种有效检测TaSi2纯度的方法。本发明的TaSi2试样经硝酸与氢氟酸处理使游离Si、SiO2、游离Ta、生成四氟化硅气体与[TaF7]2‑配离子,再加入KOH溶液中和多余的酸以及与未反应的离子反应,抽滤后测定残留物量即为TaSi2的含量。本发明所检测结果TaSi2物相的纯度基本均稳定在99%左右,所测结果数值稳定,表明本发明具有很高的检测稳定性和可靠性。本发明与目前仪器手段表征相比优势在于可准确检测出TaSi2物相的含量,再通过简单计算就可得到物相纯度。本发明应用于TaSi2纯度检测领域。
搜索关键词: 一种 有效 检测 tasi base sub
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