[发明专利]一种微波器件测试夹具在审
申请号: | 202110488431.7 | 申请日: | 2021-05-06 |
公开(公告)号: | CN113189375A | 公开(公告)日: | 2021-07-30 |
发明(设计)人: | 周玉军;柴俊标;卜建明 | 申请(专利权)人: | 杭州中安电子有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R31/26;H05K7/20 |
代理公司: | 杭州浙言专利代理事务所(普通合伙) 33370 | 代理人: | 顾传虎 |
地址: | 311123 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明涉及一种微波器件测试夹具,包括微波器件压紧装置、夹紧扣死装置以及测试平台,测试平台中间设有辅助器件安装空间,其上的SMA对接孔、探针组对接孔、温度传感器对接孔贯穿所述测试平台与微波器件测试空间相连通,辅助器件安装空间内设置有辅助器件安装块;微波器件压紧装置设置在微波器件测试空间上端,夹紧扣死装置设置在微波器件压紧装置前侧。该夹具采用旋钮式压紧微波器件方式,无需螺钉紧固,增加微波器件抬升装置,使紧密配合的微波器件和测试平台更容易平行分离,同时将测试平台和散热平台一体化设计,增加限位装置,保证了测试的精度并提高了微波器件的测试效率,使测试过程更加方便,节约时间,降低人工成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 微波 器件 测试 夹具 | ||
【主权项】:
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