[发明专利]一种二维指向机构精度测量装置在审
| 申请号： | 202110504533.3 | 申请日： | 2021-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN113137978A | 公开（公告）日： | 2021-07-20 |
| 发明（设计）人： | 柴艳红;孙瑞峰;刘兰波;毛喆;魏鹏鹏 | 申请（专利权）人： | 上海航天电子通讯设备研究所 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人： | 胡晶 |
| 地址： | 201109 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种二维指向机构精度测量装置，涉及卫星结构测量技术领域，包括：方位调整装置、俯仰调整装置、角度测量装置、测试台面；方位调整装置包括：支撑回转机构、俯仰支撑架，俯仰支撑架安装在支撑回转机构上；俯仰调整装置包括：安装板、轴承、第一伺服电机、第一减速机、第一转动轴、第二转动轴；角度测量装置包括：安装底板、水平调整杆、角度测量仪器；俯仰调整装置通过轴承与俯仰支撑架连接，支撑回转机构的底部与测试台面连接，角度测量装置通过安装底板与测试台面连接。本发明的二维指向机构精度测量装置，可实现对二维指向机构精度的单点测量和连续测量，测量过程简单，大大节约了测量的时间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 二维 指向 机构 精度 测量 装置 | ||
【主权项】：
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