[发明专利]一种改善芯片测试设备测试精度的电路及方法在审
| 申请号： | 202110511361.2 | 申请日： | 2021-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN115327191A | 公开（公告）日： | 2022-11-11 |
| 发明（设计）人： | 张新城;于美洁 | 申请（专利权）人： | 圣邦微电子（北京）股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/30 | 分类号： | G01R1/30;G01R1/28;G01R1/36;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京智绘未来专利代理事务所(普通合伙) 11689 | 代理人： | 赵卿 |
| 地址： | 100089 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种改善芯片测试设备测试精度的电路及方法，其特征在于：电路包括DUT信号生成单元、同步时钟信号生成单元、第一开关单元、第二开关单元和减法器；其中，DUT信号生成单元，向同第一开关单元输送DUT信号；同步时钟信号生成单元，用于采集DUT信号以对时钟信号进行更新，以及基于第二控制信号的控制将更新后的时钟信号发送至减法器；第一开关单元，用于控制DUT信号输入至第二开关单元中，以及控制同步时钟信号生成单元的开启或关断状态；第二开关单元，用于控制同步时钟信号输入至减法器中；减法器，用于生成高精度待测信号。本发明中的电路能够保护测试设备，改善待测信号，且结构简单、成本低、效果好，应用广泛。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 改善 芯片 测试 设备 精度 电路 方法 | ||
【主权项】：
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