[发明专利]自动测试系统和自动测试方法有效
申请号: | 202110511780.6 | 申请日: | 2021-05-11 |
公开(公告)号: | CN113391143B | 公开(公告)日: | 2022-12-13 |
发明(设计)人: | 魏文浩;吕宇轩;赖永康;梅健;冯慈铵;黄嘉荣;陈炳红;王伟 | 申请(专利权)人: | TCL王牌电器(惠州)有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人: | 徐世俊 |
地址: | 516006 广东省惠州*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本申请公开了一种自动测试系统和自动测试方法,该自动测试系统包括:采集板、处理芯片、电源模块和目标芯片,通过采集板采集待测试控制信号,并对待测试控制信号进行预处理,以得到中间信号,通过处理芯片从中间信号中提取与目标测试对象的目标测试信号类型匹配的目标控制信号,并进行测试处理,其中,目标芯片是目标测试对象对应的芯片,通过电源模块,为采集板、处理芯片和目标芯片进行供电,使得目标芯片在接收到电源后,通过标准接口输出对应的待测试控制信号。本申请实施例通过简单的几个装置实现了对目标测试对象的待测试控制信号的采集和处理,进而提高对待测试控制信号的测试效率,以及提高对待测试控制信号的测试准确性。 | ||
搜索关键词: | 自动 测试 系统 方法 | ||
【主权项】:
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