[发明专利]实现离子阵列的方法、装置、计算机存储介质及终端有效

专利信息
申请号: 202110513486.9 申请日: 2021-05-11
公开(公告)号: CN113191009B 公开(公告)日: 2022-09-27
发明(设计)人: 段路明;吴宇恺 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G16C10/00
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 代理人: 李丹;栗若木
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本文公开一种实现离子阵列的方法及装置,包括:确定高维离子阵列随温度发生离子交换或整体构型变化的概率信息;根据确定的概率信息,获取一个小于预设阈值的概率对应的温度值;根据获取的温度值确定离子阱工作的环境温度,以使离子阱在确定的工作的环境温度获得高维离子阵列。本发明实施例通过确定高维离子阵列随温度发生离子交换或整体构型变化的概率小于预设阈值的温度,在低温环境下获得了结构稳定的高维离子阵列,为离子阵列的进一步应用提供了技术支持。
搜索关键词: 实现 离子 阵列 方法 装置 计算机 存储 介质 终端
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学,未经清华大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110513486.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top