[发明专利]一种针对软磁薄膜的低频复数磁导率测试装置及方法有效
| 申请号： | 202110515462.7 | 申请日： | 2021-05-12 |
| 公开（公告）号： | CN113253167B | 公开（公告）日： | 2022-03-11 |
| 发明（设计）人： | 陆吉玺;高亚楠;马丹跃;王坤;李思然;蒋硕;孙畅 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12 |
| 代理公司： | 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 | 代理人： | 朱亚娜;吴小灿 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种针对软磁薄膜的低频复数磁导率测试装置及方法，通过设计母线为圆形的回转体式环形测试体，并将软磁薄膜固定在所述环形测试体内部，然后在环形测试体整体结构的外表面均匀绕线线圈，线圈的接线端连接到所述LCR表，测试低频信号下包含有软磁薄膜的环形测试体的等效电阻和等效电感，从而得到软磁薄膜低频复数磁导率，达到计算和评估其磁滞损耗噪声的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 针对 薄膜 低频 复数 磁导率 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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