[发明专利]具有AlN的发光二极管外延片的制备方法有效

专利信息
申请号: 202110529500.4 申请日: 2021-05-14
公开(公告)号: CN113481593B 公开(公告)日: 2022-12-13
发明(设计)人: 洪威威;王倩;梅劲;董彬忠 申请(专利权)人: 华灿光电(浙江)有限公司
主分类号: C30B23/02 分类号: C30B23/02;C30B29/40;H01L33/00;H01L33/12;H01L33/14
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 代理人: 吕耀萍
地址: 322000 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 本公开提供了一种具有AlN的发光二极管外延片的制备方法,属于发光二极管技术领域。交替在衬底的表面溅射第一AlN膜与第二AlN膜以最终形成AlN缓冲层。并且溅射第一AlN膜时的靶间距为第一靶间距,溅射第二AlN膜时的靶间距为第二靶间距,第一靶间距大于第二靶间距。较大的第一靶间距溅射得到的第一AlN膜的厚度与均匀性会较好。较小的第二靶间距溅射第二AlN膜的速度会较快,提高第二AlN膜的沉积速率。而交替得到的第一AlN膜与第二AlN膜的内部应力得到释放,AlN缓冲层的整体质量得到提高,并且AlN缓冲层的生长速率也得到提高。降低发光二极管外延片的制备周期的同时有效提高发光二极管外延片的晶体质量。
搜索关键词: 具有 aln 发光二极管 外延 制备 方法
【主权项】:
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