[发明专利]带高阻层的MOSFET及其制备方法、功率晶体管模块在审

专利信息
申请号: 202110532062.7 申请日: 2021-05-14
公开(公告)号: CN113299756A 公开(公告)日: 2021-08-24
发明(设计)人: 徐光伟;刘琦;周选择;龙世兵;赵晓龙 申请(专利权)人: 中国科学技术大学
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06;H01L21/34;H05B45/37
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 孙蕾
地址: 230026 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种带高阻层的MOSFET及其制备方法、功率晶体管模块,其中,该带高阻层的MOSFET包括:半绝缘衬底层、缓冲层、外延层、高阻层;源电极、漏电极、栅电极;其中,半绝缘衬底层、缓冲层、外延层自下至上依次设置;源电极、漏电极均设置在外延层上表面,源电极、漏电极与外延层均形成欧姆接触;外延层非欧姆接触区域的上表面设置栅介质;栅电极设置在栅介质的上表面;外延层中位于栅电极、漏电极之间的非欧姆接触区域设置高阻层;高阻层包括N型氧化镓,载流子浓度包括0~1×1016cm‑3
搜索关键词: 带高阻层 mosfet 及其 制备 方法 功率 晶体管 模块
【主权项】:
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