[发明专利]一种芯片系统级测试系统和方法在审
| 申请号： | 202110534068.8 | 申请日： | 2021-05-17 |
| 公开（公告）号： | CN113325297A | 公开（公告）日： | 2021-08-31 |
| 发明（设计）人： | 刘梅英 | 申请（专利权）人： | 瑞芯微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 福州市景弘专利代理事务所(普通合伙) 35219 | 代理人： | 魏小霞;林祥翔 |
| 地址： | 350003 福建省*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明涉及芯片测试领域，特别涉及一种芯片系统级测试系统和方法。一种芯片系统级测试系统，包括：待测模块、主测试模块、测试监控模块和主控制模块；待测模块分别连接主测试模块、测试监控模块和主控制模块；待测模块用于：运行待测芯片的系统软件，与主测试模块协同对自身各个接口模块进行测试；测试监控模块用于对主控制模块的命令进行解析，并根据解析的命令执行对应的操作；主控制模块用于：接收测试结果信息和操作结果，并根据测试结果信息和操作结果执行不同的操作。以上系统即可实现待测芯片的系统级测试，并且其通用性高，主测试模块可以根据测试需求增减、只要对应的设计每个待测芯片的待测模块就可以使用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 系统 测试 方法 | ||
【主权项】：
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