[发明专利]沟槽型功率半导体器件及其制造方法在审

专利信息
申请号: 202110534213.2 申请日: 2021-05-17
公开(公告)号: CN113314589A 公开(公告)日: 2021-08-27
发明(设计)人: 朱袁正;叶鹏;周锦程;王根毅;周永珍 申请(专利权)人: 无锡新洁能股份有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L27/088;H01L21/8234
代理公司: 无锡市兴为专利代理事务所(特殊普通合伙) 32517 代理人: 屠志力
地址: 214000 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 本申请涉及半导体集成电路制造技术领域,具体涉及沟槽型功率半导体器件及其制造方法。该器件包括基底层;栅极结构,其形成于栅区中,从基底层的上表面向下延伸;每个栅极结构均包括栅部和栅总线部,与栅部交界的栅总线部的边缘形成栅连接部,每个栅极结构的栅连接部均延伸至连接相邻的栅极结构;依次连接的栅连接部将有源区分为栅总线区和其他有源区;终端保护结构,其形成于终端环区中;互连层,其包括栅极互连层和源互连层,栅极互连层覆盖在栅总线区上,与栅总线部欧姆接触;源互连层覆盖在其他有源区上,与源极结构欧姆接触;栅极互连层的边缘与源互连层的边缘之间相间隔。该方法用于形成上述器件结构。
搜索关键词: 沟槽 功率 半导体器件 及其 制造 方法
【主权项】:
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