[发明专利]红外焦平面探测器读出电路的内置测试电路及测试方法有效
| 申请号： | 202110537820.4 | 申请日： | 2021-05-18 |
| 公开（公告）号： | CN113324661B | 公开（公告）日： | 2022-09-16 |
| 发明（设计）人： | 钟昇佑;姚立斌;张济清;陈楠;毛文彪;李正芬;李志浩 | 申请（专利权）人： | 昆明物理研究所 |
| 主分类号： | G01J5/10 | 分类号： | G01J5/10 |
| 代理公司： | 昆明今威专利商标代理有限公司 53115 | 代理人： | 赛晓刚 |
| 地址： | 650221 云*** | 国省代码： | 云南;53 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种红外焦平面探测器读出电路的内置测试电路及测试方法，包括行测试像元电路阵列、列测试像元电路阵列、参照组测试像元电路阵列和测试电流产生电路，其中行测试像元电路阵列、列测试像元电路阵列和参照组测试像元电路阵列独立于读出电路的有效像元电路阵列，并通过复用读出电路的控制逻辑单元和信号传输单元等组成部分进行信号读出。测试电流产生电路产生电流，代替光电流按一定顺序驱动各测试像元电路。只需通过对测试像元电路的输出进行单次采集和计算分析，可完成串扰、信号完整性以及读出电路动态范围、线性度等的测试和评估。 | ||
| 搜索关键词： | 红外 平面 探测器 读出 电路 内置 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于昆明物理研究所，未经昆明物理研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110537820.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
