[发明专利]缺陷检测方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质有效
申请号: | 202110538279.9 | 申请日: | 2021-05-18 |
公开(公告)号: | CN113379680B | 公开(公告)日: | 2023-05-23 |
发明(设计)人: | 徐崚川 | 申请(专利权)人: | 上海闻泰信息技术有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06V10/762;G06T7/194;G06T7/90 |
代理公司: | 北京开阳星知识产权代理有限公司 11710 | 代理人: | 祝乐芳 |
地址: | 200062 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本公开涉及一种缺陷检测方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质;其中,该方法包括:将待检测图像进行灰度化处理,得到灰度图像;根据灰度图像中各像素点的灰度值,确定灰度图像中背景的灰度信息和灰度图像中目标物的灰度信息;根据背景的灰度信息和目标物的灰度信息,对灰度图像进行三值化处理;根据三值化处理结果确定待检测图像中的缺陷信息。本公开实施例能够有效提高图像的缺陷检测精度。 | ||
搜索关键词: | 缺陷 检测 方法 装置 电子设备 计算机 可读 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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