[发明专利]芯片漏写电可编程熔丝的测试方法及装置有效
| 申请号： | 202110544085.X | 申请日： | 2021-05-19 |
| 公开（公告）号： | CN113284549B | 公开（公告）日： | 2022-05-31 |
| 发明（设计）人： | 郭远东 | 申请（专利权）人： | 展讯通信（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京兰亭信通知识产权代理有限公司 11667 | 代理人： | 孙峰芳 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种芯片漏写电可编程熔丝的测试方法及装置，该测试方法包括：当应用待测芯片的电子设备第一次开机时，获取待测芯片的电可编程熔丝状态标志位；根据电可编程熔丝状态标志位判断电可编程熔丝是否写入数据；若电可编程熔丝未写数据，发出提醒信号。本发明能够尽早检查出芯片漏写电可编程熔丝的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 漏写电 可编程 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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