[发明专利]中波超晶格红外探测器在审
申请号: | 202110545359.7 | 申请日: | 2021-05-19 |
公开(公告)号: | CN113327992A | 公开(公告)日: | 2021-08-31 |
发明(设计)人: | 王国伟;李农;刘冰;朱小贵;李宁;牛智川 | 申请(专利权)人: | 南京国科半导体有限公司;中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L31/0352 | 分类号: | H01L31/0352;H01L31/0304;H01L31/11 |
代理公司: | 成都市熠图知识产权代理有限公司 51290 | 代理人: | 兰小平 |
地址: | 210008 江苏省南京市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及探测器技术领域,公开了一种中波超晶格红外探测器,包括:由下至上依次形成在衬底结构上的下电极接触层、器件核心层和上盖层,所述下电极接触层之上设有下电极,所述上盖层之上设有上电极;所述器件核心层包括:N型InAs/InAsSb超晶格第一接触层、AlGaAsSb势垒层、N型InAs/InAsSb超晶格吸收层和N型InAs/InAsSb超晶格第二接触层,所述AlGaAsSb势垒层和N型InAs/InAsSb吸收层位于InAs/InAsSb超晶格第一接触层和InAs/InAsSb超晶格第二接触层之间,且AlGaAsSb势垒层禁带宽度大于N型InAs/InAsSb超晶格吸收层的禁带宽度。本发明的中波超晶格红外探测器能够抑制低温下红外探测器件的产生复合电流,从而降低器件的暗电流密度,达到降低探测器的噪声的效果。 | ||
搜索关键词: | 中波 晶格 红外探测器 | ||
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的