[发明专利]一种考虑随机冲击的电路系统失效时间确定方法有效
| 申请号： | 202110550148.2 | 申请日： | 2021-05-20 |
| 公开（公告）号： | CN113341709B | 公开（公告）日： | 2022-05-03 |
| 发明（设计）人： | 金毅;张清源;祖天培 | 申请（专利权）人： | 台州学院;北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G05B13/04 | 分类号： | G05B13/04 |
| 代理公司： | 杭州昊泽专利代理事务所(特殊普通合伙) 33449 | 代理人： | 黄前泽 |
| 地址： | 318000 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种考虑随机冲击的电路系统失效时间确定方法。现有电路失效时间确定方法未考虑随机冲击。本发明先确定各元器件的失效率及冲击载荷阈值初始值，构建仿真模型；再确定各元器件变为开路或短路状态的状态转移率及元器件发生两类失效模式的相对概率；确定最先触发失效元器件及触发失效模式，计算触发失效的时间间隔及各元器件当前时刻受随机冲击作用的失效率，判断电路系统的输出信号是否超过阈值，若未超过，将下一个触发失效的元器件及失效模式注入仿真模型中，若超过，记录电路系统失效时间；重复循环，将所有电路系统失效时间的均值作为随机冲击载荷下的失效时间。本发明考虑冲击载荷对元器件失效的影响，为电路寿命预测提供支撑。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 考虑 随机 冲击 电路 系统 失效 时间 确定 方法 | ||
【主权项】：
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