[发明专利]一种能谱仪的校准方法及元素测试方法有效

专利信息
申请号: 202110551938.2 申请日: 2021-05-20
公开(公告)号: CN113340922B 公开(公告)日: 2022-09-30
发明(设计)人: 吴宗芹;张笑;李国梁;魏强民;佘晓羽;锁志勇;卢世峰 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: G01N23/00 分类号: G01N23/00;G01T1/36;G01T7/00
代理公司: 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 代理人: 高洁;张颖玲
地址: 430074 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 本申请提供了一种能谱仪的校准及测试方法。所述校准方法包括以下步骤:提供含有目标元素的校准样品;使用分析设备对所述校准样品进行测量,以得到目标元素的含量‑深度关系曲线,作为校准曲线;使用能谱仪对所述校准样品进行测量,以得到目标元素的含量‑深度关系曲线,作为待校准曲线;通过所述校准曲线对所述待校准曲线进行校准。本申请通过分析设备测量得到校准曲线,对能谱仪的测量曲线进行校准,使得能谱仪能够对元素进行准确的定量分析。
搜索关键词: 一种 能谱仪 校准 方法 元素 测试
【主权项】:
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