[发明专利]一种基于内定标多波位测试的天线方向图测试方法有效
| 申请号： | 202110552416.4 | 申请日： | 2021-05-20 |
| 公开（公告）号： | CN113281576B | 公开（公告）日： | 2022-11-18 |
| 发明（设计）人： | 邢英;糜健;赵旭昊 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第十四研究所 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10;G01R29/08 |
| 代理公司： | 北京律谱知识产权代理有限公司 11457 | 代理人： | 李砚明 |
| 地址： | 210039 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于内定标多波位测试的天线方向图测试方法，包括：步骤1，天线阵面通过平面暗室近场测试获取有源阵面各通道对应的天线子阵的带内方向图矢量数据；步骤2，通过平面暗室近场测试获取的法向波位对应的有源阵面所有通道的工作频带内幅度和相位近场数据采样；步骤3，对待测波位进行分组，通过内定标多波位测试获取的法向波位的带内内定标幅相数据矩阵；步骤4，通过内定标多波位测试系统获取的待测波位的带内内定标幅相数据矩阵；步骤5，计算待测波位的内定标方向图。采用本发明进行单个波位功能性验证，测试时间至少可以减少原近场测试时间的95％以上，解决了相控阵天线在阵面测试阶段方向图性能测试耗时长的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 定标 多波位 测试 天线方向图 方法 | ||
【主权项】：
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