[发明专利]一种非接触磁环尺寸及厚度自动检测装置及测量方法在审
| 申请号： | 202110562396.9 | 申请日： | 2021-05-21 |
| 公开（公告）号： | CN113124757A | 公开（公告）日： | 2021-07-16 |
| 发明（设计）人： | 张永超;刘哲纬;屠佳佳;陈隆杰 | 申请（专利权）人： | 浙江机电职业技术学院 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01B11/06 |
| 代理公司： | 苏州和氏璧知识产权代理事务所(普通合伙) 32390 | 代理人： | 李晓星 |
| 地址： | 310053 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种非接触磁环尺寸及厚度自动检测装置及测量方法，包括底座，所述底座的顶部一侧安装有滑台，所述滑台上滑动连接有三个滑座，且每个所述滑座上分别通过支架固定有激光发生器、工业相机和位移传感器，所述底座的顶部另一侧安装有滑轨。本发明结构新颖，构思巧妙，通过控制流水线运动到达指定位置，采用位移传感器进行单点测量相关的厚度信息，与激光传感器所照射的磁体环采集的图像像素厚度信息进行比对，将像素信息转化为实际的尺寸信息，无需进行外部参数的标定和激光传感器照射角度的测量，实现整个磁体环的外观尺寸和厚度测量，检测结果存入数据库，并且能够通过终端显示实际的尺寸信息，方法简便可靠，实用性强。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 接触 尺寸 厚度 自动检测 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
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